全球单芯片通量最高的纳米孔长读长测序仪发布
3 月 1 日

CycloneSEQ G400-ER纳米孔长读长测序仪全球上市,由华大智造全球经销。该产品为全球单芯片设计通量最高的纳米孔长读长测序仪。目前,超过300台CycloneSEQ纳米孔测序仪已在华大序风杭州生产基地下线并完成装机。

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